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Glacier® X
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Glacier® X

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Product number
紧凑型、高性能、TE 致冷 CCD 光谱仪
Product number
紧凑型、高性能、TE 致冷 CCD 光谱仪
规格:
Glacier® X 是一款高性能TE制冷线阵CCD光谱仪，探测器具有2048个像元，光谱仪内置16位模数转换，高速USB2.0数据接口，是长时间检测应用的理想选择。与非制冷CCD光谱仪相比Glacier® X 可提供更高的动态范围，更低的光谱仪噪声，更优异的长期稳定性，所以非常适合弱光检测和长时间连续监测等应用。 Glacier® X 系列光谱仪的最低检测波长可至200nm，最高可至1050nm。根据不同的配置，光谱分辨率0.2—4.5nm可选。灵活的配置及完备的应用支持，使其成为OEM应用的理想选择。 该光谱仪是整体解决方案的重要组成部分。可为OEM应用提供系统开发和应用支持。
产品分类：紫外-可见-近红外光谱仪
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紫外-可见-近红外光谱仪
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产品介绍
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技术参数
产品视频
产品特性：
  • 紫外-近红外波段
  • >0.2nm 光谱分辨率
  • TE制冷/控温
  • 16位数字转换
  • 500 kHz 读出速度
  • 即插即用USB 2.0数据传输
  • 提供OEM版本
 
应用：
  • 紫外/可见/近红外波段：光谱分析/光谱辐
  • 射测量/分光光度测定
  • 长积分检测
  • 吸光度测量
  • 反射率测量
  • OEM光学仪器组件
 
产品附件：
  • 光源
  • 光纤
  • 光纤探头
  • 比色皿支架
  • 直通式滤光片支架
 
软件：
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
 
TE半导体致冷：
采用内置的TE制冷器对阵列探测器进行制冷是降低暗噪声的有效手段，在增加探测器的动态范围同时提高了其检测限。
当CCD探测器从室温25℃降低到14℃时，其暗电流降低约4倍，其暗电流噪声将降低约2倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
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技术参数：
型号
BTC112E
直流输入
5V DC, <1.5A
交流输入
100-240VAC 50/60 Hz,0.5A@120VAC
探测器类型
响应增强型线性CCD阵列
探测器像元
2048 x1 像元阵列 @ 像元尺寸14μm x 200μm
光谱仪f/#
3.2
光路类型
交叉式Czerny-Turner
动态范围
1300:1
数字分辨率
16-bit 或 65,535:1
读出速度
500 kHz
数据传输速度
可达180谱/秒（USB 2.0）
积分时间
5 - 65,535ms
Aux接口
外部控制，数字I/O口
工作温度
15 -35℃
工作相对湿度
85%非冷凝
TE 制冷
14℃
重量
0.6 kg
尺寸
127.0mm x 39.0mm x 90.7mm
数据接口
USB 2.0/1.1
操作系统
Windows: 7, 8, 10, 11
上一个
Quest™ U
下一个
Glacier® T

应用指南

/APPLICATION GUIDE
/
用于拉曼和荧光光谱学的制冷光纤光谱
2022-02-10
使用阵列探测器和光纤输入的紧凑型光谱仪正被用于各种 光谱应用。从历史上看，这种设计的局限性之一是检测限 较差，特别是在低光照度的应用，如荧光和拉曼光谱学。 性能下降的主要原因与非制冷探测器自身有较高的噪声有 关。然而，热电(TE)制冷光谱仪的技术突破可显著降低噪 声指标，并可允许得到更长积分时间的信号，从而降低检 测限。在本应用说明中，我们通过将热电(TE)制冷光谱仪 与非制冷设备进行比较，来展示热电(TE)制冷光谱仪在荧 光和拉曼光谱学中的优势。
/
正确地维护和使用光纤
2022-02-10
光纤用于现代光谱仪器是巨大的创新。利用光纤采样有很 多优势，包括可以灵活地在不同的取样点进行测量，使用 方便，以及灵活性强，便于运输。光纤采样被广泛应用于 UV-Vis 光谱仪、NIR 光谱仪、激光激发的传输，拉曼的信号收集、荧光光谱仪和使用这些光谱学技术的在线过程分析仪。光纤技术将分析带出了实验室，将原需要固定的台式设备带到任何可以想象到的地方进行分析。然而，使用方式的灵活对光纤组件的相关护理和维护提出了更多的责任要求，这样才能确保测量质量和光纤的耐久性。
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