使用阵列探测器和光纤输入的紧凑型光谱仪正被用于各种 光谱应用。从历史上看，这种设计的局限性之一是检测限 较差，特别是在低光照度的应用，如荧光和拉曼光谱学。 性能下降的主要原因与非制冷探测器自身有较高的噪声有 关。然而，热电(TE)制冷光谱仪的技术突破可显著降低噪 声指标，并可允许得到更长积分时间的信号，从而降低检 测限。在本应用说明中，我们通过将热电(TE)制冷光谱仪 与非制冷设备进行比较，来展示热电(TE)制冷光谱仪在荧 光和拉曼光谱学中的优势。

使用阵列探测器和光纤输入的紧凑型光谱仪正被用于各种光谱应用。从历史上看，这种设计的局限性之一是检测限较差，特别是在低光照度的应用，如荧光和拉曼光谱学。性能下降的主要原因与非制冷探测器自身有较高的噪声有关。然而，热电(TE)制冷光谱仪的技术突破可显著降低噪声指标，并可允许得到更长积分时间的信号，从而降低检测限。在本应用说明中，我们通过将热电(TE)制冷光谱仪与非制冷设备进行比较，来展示热电(TE)制冷光谱仪在荧光和拉曼光谱学中的优势。