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Sol™ 1.7
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900 - 1700nm 近红外TE制冷 InGaAs 阵列光谱
Product number
900 - 1700nm 近红外TE制冷 InGaAs 阵列光谱
规格:
Quantity
-
+
Stock:
0
产品介绍
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技术参数
产品视频
产品特性：
-
光谱范围 900nm-1100nm
-
分辨率最高至0.35nm
-
内置16位模数转换
-
制冷可达-20℃
-
两种增益模式满足特殊应用需求
-
可选配256或1024像元
应用：
- 过程监测
- 近红外光谱分析
- 质量控制
- 在线分析
- 材料鉴定
产品附件：
- 光源
- 光纤
- 光纤探头
- 光纤采样支架
TE半导体制冷：
采用内置的TE制冷器对阵列探测器进行制冷是降低暗噪声的有效手段，在增加探测器的动态范围同时提高了其检测限。
当InGaAs探测器从室温25℃被降低到-10℃时，其暗电流将降低约12.25倍，其暗电流噪声将降低约3.5倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
当InGaAs探测器从室温25℃被降低到-10℃时，其暗电流将降低约12.25倍，其暗电流噪声将降低约3.5倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
软件：
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
可选狭缝：
|
狭缝 |
尺寸 |
光谱分辨率 900-1700 nm |
|
25μm |
25μm x 1mm |
~4.0nm |
|
50μm |
50μm x 1mm |
~5.0nm |
|
100μm |
100μm x 1mm |
~8.4nm |
|
客户定制可选 |
||
衍射光栅：
|
建议响应波段(nm) |
光栅 |
光谱分辨率 25μm狭缝 |
|
1500 - 1600 |
1000 / 1310 |
0.35nm |
|
1260 - 1355 |
1000 / 1310 |
0.4nm |
|
1450 - 1650 |
600 / 1200 |
0.8nm |
|
1200 - 1400 |
600 / 1200 |
0.7nm |
|
900 - 1300 |
300 / 1200 |
1.5nm |
|
1200 - 1600 |
300 / 1200 |
1.5nm |
|
900 - 1700 |
150 / 1250 |
4.0nm |
|
客户定制可选 |
||
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无
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