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高性能低杂散光CCD光谱仪
Product number
高性能低杂散光CCD光谱仪
规格:
Quantity
-
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Stock:
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产品介绍
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技术参数
产品视频
产品特性：
- 结构紧凑
- 紫外波段低杂散光
- 具有紫外、紫外-近红外波段两种标准配制
- >0.4nm 光谱分辨率
- 16位模数转换
- 最低1ms积分时间
- >2.0 MHz 读出速度
- USB2.0通信
产品应用：
- 紫外、可见、近红外波段的:
- 光谱分析 / 光谱辐射测量 /分光光度测定
- 波长鉴别
- 吸光度测量
- 反射率测量
- OEM 产品模块
产品附件：
- 光纤
- 参考光源
- 比色皿支架
- 直通式滤光片支架
- 光纤探头
软件：
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。
除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
狭缝：
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狭缝
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尺寸
|
光谱分辨率 200-400nm
|
光谱分辨率 200-850nm
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10μm
|
10μm x 1mm
|
~0.4nm
|
~1.0nm
|
|
25μm
|
25μm x 1mm
|
~0.6nm
|
~1.5nm
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|
50µm
|
50μm x 1mm
|
~1.0nm
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~2.5nm
|
|
100μm
|
100μm x 1mm
|
~1.6nm
|
~4nm
|
|
200μm
|
200μm x 1mm
|
~3.0nm
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~8nm
|
| 客户定制可选 | |||
衍射光栅：
|
建议响应波段
|
光谱范围(nm)
|
光栅
|
|
紫外
|
200-400
|
1800/250
|
|
紫外/可见
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200-850
|
600/250
|
| 客户定制可选 | ||
阵列探测器：
|
规格
|
|
|
波长范围
|
200nm-850nm
|
|
像元
|
2048
|
|
尺寸
|
14µm x 200μm
|
|
阱深
|
~65,000 e
|
|
读出速度
|
>2.0 MHz
|
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