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Exemplar® T
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Exemplar® T

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Product number
TE制冷的智能光谱仪
Product number
TE制冷的智能光谱仪
规格:
Exemplar® T (BTC665N) 是一款高通量光谱仪。配备了低噪声TE制冷的薄型背照式（BT）CCD探测器，具有较高的动态范围。通过基于透射光学-独特光谱仪和高量子效率的探测器相结合，可在整个532-1100nm的光谱范围内提供优秀的数据质量。BTC665N具有较高的信噪比，是弱光条件下应用的理想选择。
产品分类：紫外-可见-近红外光谱仪
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产品分类
紫外-可见-近红外光谱仪
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产品介绍
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技术参数
产品视频

应用:

  • 拉曼和荧光光谱分析
  • 生物光谱分析
  • 气体和水分析

 

特点：

  • 在可见和近红外波段有高响应
  • 探测器配备2048个像元
  • 200nm处的量子效率（QE）大于60%（QE峰值为80%）
  • 软件中可设置制冷温度（默认-2°C）
  • 超低噪声

智能：板载数据处理功能，包含平均、光谱平滑以及暗噪声扣除。

速度：当设置积分时间为6.3us时，每秒可采集和传输>140张光谱。

 

积分时间为30分钟时暗噪声

 

附件：

  • 光纤探头  
  • 光纤耦合样品支架  
  • 光纤
  • 光源  


软件：

BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
 
 
狭缝：

狭缝

尺寸

光谱范围

光谱分辨率 FWHM（标准）

10 µm

10 µm x 1mm

532 – 687 nm

~ 0.16 nm

20 µm

20 µm x 1mm

788 – 1067 nm

~ 0.37 nm

客户可定制狭缝宽度

衍射光栅：

建议响应波段

光谱范围 (nm)

光栅

NIR

788 - 1067

1000 / 900

Vis

532 - 687

1800 / 500

客户定制可选
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技术参数：

型号

BTC665N

电源

5V DC @ 9.0 A (启动时最大值)

5V DC @ 4.0 A (正常工作时典型值)

探测器

背照式 CCD 阵列

光谱范围

532 nm - 1100 nm

探测器像元

2048个有效像元

有效像元尺寸

14 um x ~ 0.9 mm

光谱仪 f/#

2.2

光谱仪光路

双向透射

动态范围

50000 (典型值)

数字分辨率

16-bit 或 65,535：1

数据传输速度

>140谱/秒，设置积分时间为100ms，在突发模式下

触发延时

95 ns +/- 20 ns (见时序图)

读出速度

> 400 kHz

积分时间

100ms-30min

Aux 接口

外部触发控制，4路数字信号输出(2路控制快门), 2路数字信号输入, 模拟信号输入, 模拟信号输出和系统复位

工作温度

5°C - 35°C

工作相对湿度

85% ，无冷凝

CCD 制冷

-2°C@室温25°C

重量

2.0 kg

尺寸

198mm x 180mm x 102mm

电脑接口

USB 3.0 / 2.0

操作系统

Windows: 7, 8, 10, 11
上一个
Exemplar® Plus LS
下一个
Exemplar® HT

应用指南

/APPLICATION GUIDE
/
用于拉曼和荧光光谱学的制冷光纤光谱
2022-02-10
使用阵列探测器和光纤输入的紧凑型光谱仪正被用于各种 光谱应用。从历史上看，这种设计的局限性之一是检测限 较差，特别是在低光照度的应用，如荧光和拉曼光谱学。 性能下降的主要原因与非制冷探测器自身有较高的噪声有 关。然而，热电(TE)制冷光谱仪的技术突破可显著降低噪 声指标，并可允许得到更长积分时间的信号，从而降低检 测限。在本应用说明中，我们通过将热电(TE)制冷光谱仪 与非制冷设备进行比较，来展示热电(TE)制冷光谱仪在荧 光和拉曼光谱学中的优势。
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正确地维护和使用光纤
2022-02-10
光纤用于现代光谱仪器是巨大的创新。利用光纤采样有很 多优势，包括可以灵活地在不同的取样点进行测量，使用 方便，以及灵活性强，便于运输。光纤采样被广泛应用于 UV-Vis 光谱仪、NIR 光谱仪、激光激发的传输，拉曼的信号收集、荧光光谱仪和使用这些光谱学技术的在线过程分析仪。光纤技术将分析带出了实验室，将原需要固定的台式设备带到任何可以想象到的地方进行分析。然而，使用方式的灵活对光纤组件的相关护理和维护提出了更多的责任要求，这样才能确保测量质量和光纤的耐久性。
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